超聲波測(cè)厚系統(tǒng)的發(fā)展歷史

超聲波測(cè)厚系統(tǒng)的發(fā)展歷史可以大致分為以下幾個(gè)階段：

早期探索階段：

19世紀(jì)：人們開(kāi)始研究聲波在空氣和其他材料中的傳播。

1830年：法國(guó)科學(xué)家菲利克斯·薩伐爾（Félix Savart）首次利用人工機(jī)械技術(shù)產(chǎn)生超聲波。

1880年：法國(guó)物理學(xué)家皮埃爾·居里（Pierre Curie）和雅克·居里（Jacques Paul Curie）兩兄弟發(fā)現(xiàn)電氣石的壓電效應(yīng)，這為后來(lái)利用電子技術(shù)產(chǎn)生超聲波奠定了基礎(chǔ)。

技術(shù)奠基階段：

20世紀(jì)20年代：使用超聲波檢測(cè)材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的想法開(kāi)始得到探究。

1931年：超聲無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的第一個(gè)特定專(zhuān)利被申請(qǐng)。

1940年：密歇根大學(xué)的Floyd Firestone教授發(fā)明了第一臺(tái)實(shí)用的商業(yè)超聲檢測(cè)儀器，稱(chēng)為反射鏡，并獲得了專(zhuān)利。

技術(shù)進(jìn)步與應(yīng)用拓展階段：

第二次世界大戰(zhàn)期間：聲吶的發(fā)展進(jìn)一步推動(dòng)了超聲檢測(cè)技術(shù)的進(jìn)步。

20世紀(jì)50年代：商業(yè)超聲儀器開(kāi)始大量出現(xiàn)，主要用于超聲探傷，但也逐漸用于厚度測(cè)量。

20世紀(jì)60年代：出現(xiàn)了第一批為測(cè)量厚度而設(shè)計(jì)的更小、更便攜的儀器，這些儀器以數(shù)字形式顯示厚度。

1973年：奧林巴斯的前身Panametrics推出的5221型儀器是第一臺(tái)預(yù)設(shè)有多模式測(cè)量功能、可以測(cè)量多種材料和厚度的商用超聲測(cè)厚儀。

性能提升與功能完善階段：

20世紀(jì)70年代：電池供電、相對(duì)緊湊的超聲測(cè)厚儀變得普遍，儀器也持續(xù)變得更小巧、更強(qiáng)大。

20世紀(jì)80年代：測(cè)厚儀中引進(jìn)了波形顯示和內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄功能，以協(xié)助操作人員更有效地進(jìn)行測(cè)量。

20世紀(jì)90年代：數(shù)字信號(hào)處理取代了模擬電路，提高了測(cè)量的穩(wěn)定性和可重復(fù)性。

現(xiàn)代發(fā)展階段：

微處理器技術(shù)的進(jìn)步將超聲測(cè)厚儀的性能提升到了新的水平，使其更加成熟和易于使用。

超聲波測(cè)厚儀不僅用于金屬材料的厚度測(cè)量，還廣泛應(yīng)用于非金屬材料的厚度測(cè)量，如塑料、橡膠、陶瓷等。

總之，超聲波測(cè)厚系統(tǒng)的發(fā)展歷史是一個(gè)不斷技術(shù)進(jìn)步、功能完善和應(yīng)用拓展的過(guò)程。從早期的探索到現(xiàn)代的廣泛應(yīng)用，超聲波測(cè)厚系統(tǒng)已成為工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量檢測(cè)中不可或缺的重要工具。